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全新 Olympus Vanta iX 在线 XRF 分析仪 - 促销!!
Vanta iX 在线 XRF 分析仪,用于自动材料分析.
特点::

保持流程快速运行 管材、棒材和杆材的金属制造 100% 检测 采矿业中矿石品位控制的扫描和监测 快速准确的元素分析,实现持续质量控制 轻松集成到各种生产系统中 坚固耐用,可在制造环境中延长正常运行时间

尺寸 / 重量:

10 厘米 × 7.9 厘米 × 26.6 厘米 2.4 Kg

价格::

大于2件(8折)

产品详情

@全新 Olympus Vanta iX 在线 XRF 分析仪 - 促销!!

对于地质加工和采矿,Vanta iX 分析仪可以进行岩心扫描和带上分析,并提供实时结果,从而监测工艺过程的波动性并确保矿石品位的一致性。在带上分析过程中,该分析仪还可以提供精矿的混合验证和工艺确认。

1、Vanta iX 在线 XRF 分析仪,用于自动材料分析

保持流程快速运行

奥林巴斯 Vanta™ iX 在线 X 射线荧光 (XRF) 分析仪通过在生产线上自动执行材料分析和合金识别,让您对产品充满信心:

提供即时结果,用于实时过程监控和 100% 检查

全天候运行

配置为提供通过/失败结果、准确的等级ID和材料化学信息

2、管材、棒材和杆材的金属制造 100% 检测

对于采用工业 4.0 实践和全天候 (24/7) 过程控制来验证合金并进行合格/不合格分析的组织,Vanta iX 分析仪可以针对棒材、坯料、管材和棒材制造以及机加工零件和定制组件提供材料验证和批次/炉次控制。使用 Vanta iX 分析仪实现测试自动化,可以为您的成品增添竞争优势,因为您可以证明材料已经过 100% 的测试和验证。

3、采矿业中矿石品位控制的扫描和监测

对于地质加工和采矿,Vanta iX 分析仪可以进行岩心扫描和带上分析,并提供实时结果,从而监测工艺过程的波动性并确保矿石品位的一致性。在带上分析过程中,该分析仪还可以提供精矿的混合验证和工艺确认。

快速准确的元素分析,实现持续质量控制

与所有 Vanta 电子产品一样,Vanta iX 分析仪运行速度快,同时提供可靠、可操作的结果来指导关键决策。

高分辨率: 识别一系列合金等级——包括轻元素和重元素

4、快速、准确的结果: 分析仪的电子设备提供高吞吐量、稳定性和计数率

高效: 配备硅漂移探测器 (SDD) 和每台 Vanta 分析仪都采用的成熟 Axon 技术™

5、轻松集成到各种生产系统中

Vanta iX 分析仪功能多样、结构紧凑且易于安装——您可以使用分析仪两侧的安装孔将其安装到机器人系统或其他系统上。它无需外部控制盒,因此您可以使用 Vanta Connect API 或 PLC 和分立线路轻松控制分析仪。

连接器选项:

以太网 (RJ-45),支持以太网供电

USB

离散输入/输出(16针)

辅助直流电源

6、坚固耐用,可在制造环境中延长正常运行时间

Vanta iX 分析仪可承受生产设施的高强度振动、电磁和声学噪声、灰尘和湿气,从而提高可靠性和正常运行时间。

经过振动测试(MIL-STD)

IP54 等级

设计工作温度范围为 –10 °C 至 50 °C(14 °F 至 122 °F),可进行连续测试

内置散热器可降低内部温度,如有需要,可提供风扇连接点。该分析仪提供免工具更换窗口的功能,方便快速维护。


规格:

品牌奥林巴斯
类型Vanta iX 在线 XRF 分析仪 (现货)
尺寸(宽 × 高 × 深)10 厘米 × 7.9 厘米 × 26.6 厘米
重量2.4 千克
激发源X 射线管:Rh 或 W 阳极(应用优化)5–200 μA
MR 型号:8–50 keV(最大 4 W)
CW 型号:8–40 keV(最大 4 W)
原光束滤光每个光束每个方法自动选择八个滤光片位置
探测器MR型号:大面积硅漂移探测器
CW型号:标准硅漂移探测器
电源以太网供电 (PoE) 或 18 V AC 电源适配器
元素范围方法相关:
MR 模型:Mg–U
CW 模型:Ti–U(带标准窗口和校准)
压力校正内置气压计,可自动校正海拔和气压
IP 等级IP54
操作环境温度范围:连续工作周期下 -10 °C 至 50 °C(14 °F 至 122 °F)
湿度:相对湿度 10% 至 90%,无冷凝
操作系统Linux
应用软件奥林巴斯专有数据采集和处理包