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Cary 5000/Cary 4000 UV-Vis-NIR 分光光度计
在材料科学、生命科学等领域的应用。
波长范围:紫外可见近红外(190-2600nm):

仪器结构: 双光束:

光谱带宽: UV-Vis 0.01 - 5.00 nm NIR 0.04 - 20 nm:

产品详情

Cary 5000 是一款高性能紫外-可见-近红外分光光度计,在 175-3300 nm 范围内具有优异的光度性能。Cary 5000 采用 PbSmart 检测器,其近红外范围可扩展到 3300 nm,这使其成为用于材料科学研究的一款功能强大的工具。它由 Cary WinUV 软件控制,该软件是基于 Windows 的模块化软件,能轻松实现强大的分析功能,并可控制大量可选附件。大样品室经过扩展可以容纳用于光谱和漫反射测试的大附件和积分球。锁定机械装置实现了快速更换和定位附件,从而获得可重现的分析结果。


产品特性:


● 主要应用领域:高校科研、光学元件生产企业;

● 借助参比光束衰减器,可测量超过 8.0 个吸光度单位 (Abs)

● 测量范围可达 175 - 3300 nm — 使用 PbSmart 近红外检测器扩展了光度范围

● WinUV 软件 — 模块化的软件具有强大的数据分析、处理与报告导出功能

● 成套多功能附件 — 可用于包括镜面反射和漫反射在内的材料研究

● 可变狭缝宽度(最小为 0.01 nm)实现了对数据分辨率的优化控制

● 带锁定机械装置的大样品室可保证快速地更换和定位附件,帮助获得高重现性的结果

● 高光通量 — 使用 Schwarzchild 耦合光学器件能在低透射率下获得更高的准确度

● 铸铝的避震隔离系统和双异面复式 Littrow 单色器设计大大减少噪音和杂散光降到

● 扩展的动态范围 — 通过将参比光束衰减到更好地与样品吸光度匹配的程度而实现

● 氮气吹扫 — 可以分别吹扫单色器和样品室


安捷伦 Cary 5000特点

  • 使用参考光束衰减来测量超过 8.0 吸光度单位。

  • 使用 PbSmart NIR 探测器测量 175 至 3300 nm,以降低杂散光并扩大光度测量范围。

  • Cary WinUV 模块化软件具有强大的分析功能和增强的传输和报告导出功能。

  • 用于材料研究的多功能配件组,包括光谱和漫反射。

  • 可变的狭缝宽度(低至 0.01 纳米)可实现数据分辨率的最佳控制。

  • 大型样品室配有 LockDown 机制,可快速更换和定位 - 获得可重复的结果。

  • 使用 Schwarzchild 耦合光学元件实现最大光吞吐量,以在低透射水平下实现更高的精度。

  • 使用浮动铝铸件和双 Littrow 单色仪,可最大程度地减少噪音和杂散光。

  • 它通过衰减参考光束来平衡双光束信号水平,从而扩大动态范围。

  • 氮气吹扫——在样品室和单色仪室中单独吹扫,以减少紫外线中的氧气和水蒸气。


包含物品:

  • DRA-2500 漫反射附件

  • Cary WinUV Bio Pack 软件

  • Cary Varian 贴片软件

  • DRA-2500 测试证书

  • Cary-5000 测试证书

  • P/N:5610013900 – 可见光源灯


性能指标


Z 轴高度

20 mm

20 mm

双光束

光度范围 (Abs)

8 Abs

光源

卤钨灯可见光和氘弧紫外光

光谱带宽

UV-Vis 0.01 - 5.00 nm

NIR 0.04 - 20 nm

宽度1020mm
控制软件

Cary WinUV for UV-Vis-NIR Applications

最大扫描速度

UV-Vis 2000 nm/min

NIR 8000 nm/min

波长

175 - 3300 nm

深度

710 mm

电源要求

100-240 VAC,50/60 Hz

重量91kg
高度38cm


Cary UV-Vis-NIR 在薄膜、光学元件和玻璃领域的应用

准确测量材料的光学特性可以为应用研究、产品开发和生产提供支持,包括设计和原型创建、制造和质量控制。Cary UV-Vis-NIR 分光光度计提供灵活可靠的材料反射率和透射率测量,为高通量光学元件制造(反射镜、透镜和滤光片)提供支持。先进的自动化选项快速提供丰富的信息,为您大幅降低每次分析的成本。


Cary UV-Vis-NIR 在半导体 — 光子和光电设备中的应用

对光的检测和控制在光子和光电设备的发展中发挥着至关重要的作用,其中准确度和测量灵活性十分关键。Cary UV-Vis-NIR 分光光度计为各种尺寸和形状的光子器件和元件提供特定的光子检测和测量解决方案。可以在宽动态范围以及光密度和光谱分辨率条件下检测光的反射率和透射率。


适用于高级材料和纳米材料的 Cary UV-Vis-NIR

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